Scheda di memoria Industrial SD Ideale per condizioni estreme Le schede Industrial SD di Kingston garantiscono durata e affidabilità superiori per numerose applicazioni industriali, incluse quelle associate ad automazione, telecomunicazioni, sistemi dati, gestione edifici e sistemi POS. Queste schede sono progettate e testate per garantire massima affidabilità anche negli ambienti più estremi. Con una temperatura di esercizio compresa tra -40°C e 85°C, la scheda Industrial SD di Kingston può funzionare anche in condizioni di temperature estreme. La scheda utilizza la tecnologia leader di settore pSLC, che garantisce velocità di trasferimento fino a 100 MB/s1. La scheda supporta fino a 1920 TBW2, con 30K P/E cicli e un set di funzioni integrate specifiche che garantiscono durata, prestazioni e sono in grado di soddisfare qualunque esigenza in ambito industriale. La scheda Industrial SD di Kingston è disponibile con capacità comprese tra 8 GB e 64 GB.
Durata in temperature estreme Progettata e testata per resistere a gamme di temperature estese, comprese tra -40°C e 85°C, per garantire un funzionamento perfetto anche nelle condizioni ambientali più estreme.
Elevata durata e affidabilità Fino a 1920 TBW, con una durata stimata di 30 K cicli P/E, al fine di soddisfare un’ampia gamma di applicazioni industriali.
Conforme agli standard UHS-I Velocità fino a 100 MB/s con supporto per gli standard U3, V30 e A1 per applicazioni basate su Android.
Funzionalità integrate di classe industriale Livellamento dell'usura, gestione dei blocchi difettosi e strumento di monitoraggio dello stato di salute opzionale, per gestire la durata della scheda.
Dati su imballaggio
Quantità per pacco
1 pz
Dimensioni e peso
Altezza
32 mm
Profondità
2,1 mm
Larghezza
24 mm
Condizioni ambientali
Intervallo temperatura di funzionamento
-40 - 85 °C
Gestione energetica
Voltaggio della memoria
3.3 V
Caratteristiche
Colore del prodotto
Nero
Funzioni di protezione
Resistente agli urti, A prova di temperatura, Resistente alle vibrazioni, Impermeabile, A prova di raggi X